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KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪

简要描述:KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪是一种易于使用的纳米级力学测试工具,可快速提供精确的定量分析结果。G200X系统可处理从硬质涂层到软质聚合物的各种样品,并提供KLA Instruments纳米压痕仪产品线中全面的测试套件。

产品型号:

所属分类:纳米压痕仪

更新时间:2025-03-10

厂商性质:生产厂家

详情介绍

KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪提供了易于使用的纳米级力学测试工具,并快速、精确地对结果进行定量分析。G200X系统配置了我们性能优秀的运动系统、最大的样品装载系统和高分辨率光学显微镜。因为拥有InView软件、InQuest控制器和InForce作动器,我们的整个压痕产品线均拥有优秀的性能。KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪系统选件包括连续刚度测量(CSM)、扫描探针显微成像、划痕测试、频率扫描、电学性能测量、快速压痕测试和冲击测试。

KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪

主要功能

  • 电磁驱动作动器可实现载荷和位移的宽动态范围控制

  • 高分辨率光学显微镜与精密XYZ移动系统的结合能实现高精度观察与定位测试样本。

  • 便捷的样品装载台与多样品定位功能实现高通量测试。

  • 模块选件远不止能进行压痕测试,还可进行SPM成像、划痕测试、高温纳米压痕测量、动态压痕测试(连续刚度测量)和快速压痕测试等模块化升级选件。

  • 直观的用户操作界面便于快速进行测试设置;仅需点击几下鼠标即可完成测试的参数设置。

  • 实时高效的实验控制,简单易用的测试流程开发和测试设置。

  • 全套InView软件,包括用于分析数据和创建报告的ReviewData和InFocus。

  • 备受赞誉的快速纳米压痕测试可用于生成材料力学性能图像,并提升统计数据的可靠性。

  • InQuest高速数字控制器,数据采集速率最高可达100kHz,时间常数最快为20µs。

KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪

主要应用

  • 快速硬度和模量测量(基于Oliver-Pharr模型)

  • 快速材料表面力学特性成像

  • ISO 14577硬度测试

  • 薄膜及涂层测试

  • 界面附着力测量

  • 断裂韧性测量

  • 粘弹性测量,包括损耗因子,储存模量和损耗模量

  • 扫描探针显微成像(3D 成像)

  • 定量划痕和摩擦磨损测试

  • 高温纳米压痕测试

  • I-V测试

KLA Nano Indenter® G200X纳米压痕仪

行业分布

  • 高校、科研实验室和研究所

  • 半导体与封装产业

  • PVD/CVD硬质涂层(DLC、TiN)

  • MEMS:微机电系统/纳米级通用测试

  • 陶瓷与玻璃

  • 金属与合金

  • 制药

  • 涂层与油漆

  • 复合材料

  • 电池与储能

  • 汽车与航空航天



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