KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪产品系列用于测量小到 1 微米的光斑。 对大多数显微镜而言KLA Filmetrics F40薄膜厚度测量仪能简单地固定在 c 型转接器上,这样的转接器是显微镜行业标准配件。
F40 配备的集成彩色摄像机,能够对测量点进行准确监控。 在 1 秒钟之内就能测定厚度和折射率。 像我们所有的台式仪器一样,F40 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内完成设定。
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
MA-Cmount 安装转接器 显微镜转接器
光纤连接线
BK7 参考材料
TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度标准 聚焦/厚度标准
BG-Microscope (作为背景基准)
型号 | 厚度范围 | 波长范围 |
F40 | 20nm-40μm | 400-850nm |
F40-EXR | 20nm-120μm | 400-1700nm |
F40-NIR | 40nm-120μm | 950-1700nm |
F40-UV | 4nm-40μm | 190-1100nm |
F40-UVX | 4nm-120μm | 190-1700nm |