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KLA Filmetrics F30薄膜厚度测量仪

简要描述:KLA Filmetrics F30薄膜厚度测量仪通过实时监控沉积过程,提供高精度、快速且非侵入式的测量解决方案,适用于多种半导体和电介质材料。其主要特点包括提高生产力、低成本、高精度及易用性。该系列产品覆盖不同厚度和波长范围,满足多样化测量需求。

产品型号:

所属分类:薄膜厚度测量仪

更新时间:2025-03-10

厂商性质:生产厂家

详情介绍

监控薄膜沉积,有力的工具

KLA Filmetrics F30薄膜厚度测量仪光谱反射率系统能实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数 (n 和 k 值) 和半导体以及电介质层的均匀性。

样品层

KLA Filmetrics F30薄膜厚度测量仪分子束外延和金属有机化学气相沉积: 可以测量平滑和半透明的,或轻度吸收的薄膜。 这实际上包括从氮化镓铝到镓铟磷砷的任何半导体材料。

各项优点:

  • 极大地提高生产力

  • 低成本 —几个月就能收回成本

  • A精确 — 测量精度高于 ±1%

  • 快速 — 几秒钟完成测量

  • 非侵入式 — 在沉积室以外进行测试

  • 易于使用 — 直观的 Windows™ 软件

  • 几分钟就能准备好的系统

型号规格

型号厚度范围波长范围

F30

15nm-70μm
380-1050nm
F30-EXR15nm-250μm
380-1700nm
F30-NIR100nm-250μm950-1700nm
F30-UV
3nm-40μm190-1100nm
F30-UVX3nm-250μm190-1700nm
F30-XT
0.2μm-450μm1440-1690nm




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