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LT-sSNOM 低温显微镜

简要描述:LT-sSNOM 低温显微镜具有近场成像和光谱学的能力,以及接触、动态、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。样品界面由离轴抛物面镜照射,散射光由外差干涉仪检测。地形图像可以与光学图像同时获得。

产品型号:

所属分类:LT-sSNOM 低温显微镜

更新时间:2025-07-24

厂商性质:生产厂家

详情介绍

LT-sSNOM 低温显微镜


LT-sSNOM 低温显微镜


  • 配备金属反射镜,波长范围 532 纳米 - 20 微米

  • 带有光纤干涉仪的原子力显微镜(AFM)

  • 压电扫描仪,4K(极低温环境 )下扫描面积 30×30×15 微米

  • XYZ 样品纳米定位台,行程 6×6×12 毫米

  • 离轴抛物面镜用 XYZ 纳米定位台,行程 4×4×6 毫米

  • 电阻式位置传感器,分辨率 200 纳米

  • 外径 49 毫米

  • 温度范围 10 毫开尔文至 300 开尔文

  • 磁场强度最高达 31 特斯拉

  • 样品架带 8 个电触点

  • 支持接触式 / 动态 / 非接触式原子力显微镜(ncAFM)/ 磁力显微镜(MFM)/ 导电原子力显微镜(cAFM)/ 开尔文探针力显微镜(KPFM)/ 脉冲力显微镜(PRFM)/ 静电力显微镜(EFM)模式


LT-sSNOM 低温显微镜




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