LT-sSNOM 低温显微镜具有近场成像和光谱学的能力，以及接触、动态、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。样品界面由离轴抛物面镜照射，散射光由外差干涉仪检测。地形图像可以与光学图像同时获得。