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KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪

简要描述:KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪为生产和研发环节提供从几纳米到一毫米的台阶高度测量功能。该系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量,扫描范围可达200毫米,无需拼接。

产品型号:

所属分类:探针式轮廓仪

更新时间:2025-03-17

厂商性质:生产厂家

详情介绍

KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪是第八代台式探针式轮廓仪,它凝结了逾40年的表面量测经验。该行业的系统支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行二维(2D)和三维(3D)测量,扫描范围可达200mm,无需拼接。

出色的测量稳定性通过结合UltraLite® 传感器、恒力控制和超平扫描样品台实现。通过使用点击式样品台控制、顶视和侧视光学元件以及具有光学变焦功能的高分辨率相机,可快速轻松地设置程式。KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪支持2D或3D测量,可使用多种滤波、调平和分析算法来测量表面形貌。通过图形识别、序列和特征检测实现全自动测量。

KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪

特征

  • 台阶高度:纳米级到1000微米

  • 恒力控制:0.03至15mg

  • 无需拼接即可扫描样品的全直径

  • 视频:5MP高分辨率彩色相机

  • 弧形校正:可消除探针的弧形运动引起的误差

  • 软件:简单易用的软件界面

  • 生产能力:具有测序、图形识别和SECS/GEM功能的全自动测量

KLA Tencor® P-17探针式轮廓仪

应用

  • 台阶高度:2D和3D台阶高度

  • 纹理:2D和3D粗糙度和波纹度

  • 形状:2D和3D翘曲形状

  • 应力:2D和3D薄膜应力

  • 缺陷检测:2D 和 3D 缺陷表面形貌

工业

  • 高校、实验室和研究所

  • 半导体和化合物半导体

  • LED:发光二极管

  • 太阳能

  • MEMS:微机电系统

  • 数据存储

  • 汽车

  • 医疗器械






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