KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪通过同时测量反射和透射光谱，实现真空镀膜的快速、精确分析。该设备价格合理，具备分析、FWHM确定及颜色分析功能，并可通过选配模块扩展其厚度和折射率测量能力。配备FILMeasure 8软件和多种参考材料，支持多种薄膜类型，覆盖从紫外到近红外的宽波长范围，提供高效的测量结果输出及全面的技术支持服务。

KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度测量仪是一款专为测量单层和多层硬涂层设计的仪器，基于F20平台，采用光谱反射分析技术，提供快速准确的测量结果。该设备已在世界各地广泛使用，尤其受到汽车硬涂层公司的青睐。附带全套软件、探头及参考材料等配件，并提供持续的技术支持与升级服务。

KLA Filmetrics F20台式薄膜厚度测量系统;经济实惠的膜厚仪系列在几秒钟内就能完成高精度的薄膜厚度测量。这些易于使用的仪器与智能软件和一系列附件和配置相结合，可提供最大的通用性，可测量厚度为 1 纳米至 3 毫米的薄膜。

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪便携式反射仪带有内部光纤，利用具有长寿命、低功率光源可以测量曲面上的减反射涂层厚度。以极低的价格在几秒钟内测量到颜色、反射率和薄膜厚度。

KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度测量仪便携式反射仪带有内部光纤，利用具有长寿命、低功率光源可以测量曲面上的减反射涂层厚度。以极低的价格在几秒钟内测量到颜色、反射率和薄膜厚度。